欢迎访问中国科学院重庆绿色智能技术研究院·综合分析测试中心 ——所级公共技术中心
仪器品牌：帕纳科（PANalytical）
仪器型号：X'Pert3Powder
基本功能：
1. 常规XRD测试;
2. 小角XRD测试；
3. 掠入射GIXRD测试；
4. 残余应力测试
5. 薄膜厚度测试
6. 后期分析（定性定量分析，结晶度分析等）
仪器主要技术参数：
1. 输出功率：3kW
2. 额定电压电流：60kV、60mA
3. 光源：点光源、线光源
4. 光管靶材：Cu靶、Cr靶
5. 角度重现性：0.0001°
6. 测量范围：0度—160度
送样要求：
1.可测粉末、薄膜、固体样品
2. 粉末样品需3g左右，颗粒度达300目（提供样品制备服务）；薄膜厚度需20nm以上；固体样品测试面平整，所有测试面需要达到10mm*10mm
联系方式：
测试地点：综合楼205
管理人员：刘界
联系电话：18702345115
