仪器品牌：日本电子株式会社（JEOL）

仪器型号：JEM-2100PLUS

基本功能：

1. 点分辨率:0.23nm、线分辨率:0.14nm；放大倍数可达150万倍，能反映样品的内部结构，微区的晶体结构和组织的观察与分析；

2. 配置能谱探测器，可做EDS分析，可用于超微结构的成分分析；

仪器主要技术参数：

1. 点分辨率：≤0.23nm

2. 线分辨率：≤0.14nm

3. 加速电压：80 ~ 200kV可调

4. 电子光路快速切换：TEM/EDS/NBD/CBD模式一键式切换；操作键盘和旋钮控制电子束会聚角度变化

5. 放大倍率

5.1 MAG模式：x2,000 - x1,500,000

5.2 LOW MAG模式：x30 – x6000

6. EDS系统：

6.1 SDD电制冷能谱仪, 探测器有效面积80mm2

6.2 能量分辨率：Mn Ka保证优于127eV，元素分析范围:从Be4-U92

7. 相机系统

7.1 像素：5120*3840 CMOS相机

7.2 有效像素尺寸：13 um×13 um

送样要求：

1. 粉末样品颗粒直径＜100nm，固体块体样品要预先减薄制作，厚度100 nm以下；

2. 样品在高真空中能保持稳定；

3. 不含有水分或其它易挥发物，水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去；

4. 不能测试磁性样品；

5. 生物样品符合生物安全标准。

6. 需自行提前制备好样品。

联系方式：

测试地点：国科大重庆学院6号楼104

管理人员：易夏琳

联系电话：18064098409